一、按测试目的选型

1、批量质检 / 产品验收：

       优先选 Epstein 方圈法，符合 GB/T 13789、IEC 60404-2 等国标 / 国际标准，数据具有可比性，适配工厂规模化检测。

2、材料研发 / 机理分析：

       优先选 单片磁导计法 或 磁滞回线仪法，前者精度高、可测单片特性，后者能分离磁滞 / 涡流损耗，适配配方优化、性能研究。

3、产品实际性能验证：

       优先选 空载损耗法，模拟变压器、电机等实际铁芯结构，测量结果直接反映应用场景下的损耗表现。

二、按试样条件选型

1、试样尺寸规范、数量充足：

       选 Epstein 方圈法（需标准条料，如 300mm×30mm）。

2、试样尺寸小、异形或仅单张：

       选单片磁导计法（适配小尺寸试样，如 100mm×20mm）。

3、已制成铁芯半成品：

       选空载损耗法（无需额外裁切，直接利用成品铁芯测试）。

三、按频率 / 场景选型

1、工频场景（50Hz/60Hz，如普通变压器）：

       Epstein 方圈法、空载损耗法均适用。

2、高频场景（1kHz-10kHz，如高频电机、逆变器）：

       选高频损耗测量法，搭配专用高频功率分析仪，避免低频方法的测量误差。

四、按精度要求选型

1、高精度需求（误差≤±1%）：

       单片磁导计法、磁滞回线仪法。

2、常规精度需求（误差≤±3%）：

       Epstein 方圈法、空载损耗法（满足工业质检要求）。

五、选型注意事项

1、优先满足合规性：

       若需出具第三方检测报告，需选择国标 / 国际标准指定方法（如 Epstein 方圈法）。

2、平衡成本与效率：

       Epstein 方圈法设备成本适中、操作简便，适合批量测试；单片磁导计法设备昂贵，适合研发场景。

3、避免应力影响：

       小尺寸试样或精密测试时，优先选无机械裁切应力的方法（如单片磁导计法）。